Sistem de tomografie computerizata la scara nano -

NanoXTC este primul sistem de tomografie computerizata cu raze X din lume capabil sa vizualizeze structura interna a compusilor la scara nano.
Probele care pot fi masurate acopera un domeniu larg al aplicatiilor, printre care se numara: material complexe, semiconductori, microelectronice si stiintele naturii.

Cu o prepapare minima a probelor sau chiar fara aceasta etapa, sistemul nano XTC furnizeaza o capabilitate avansata de formare a imaginilor studiind ,,interiorulaa‚¬a„¢aa‚¬a„¢ probelor si vazand structura critica interna in format 2D/3D CT.

Sistemul de tomografie computerizata XTC100 are o rezolutie mai fina de 50 nm oferind o perspectiva asupra structurilor microscopice si asupra proceselor care nu erau accesibile inainte cu tehnologiile conventionale de laborator cu raze X.