Sistem de imagistica 3D cu raze X - MicroXCT 200

MicroXCT-200 Sistem de imagistica 3D cu raze X si rezolutie mare

Rezolutie 3D < 1.0 AŽA¼m pixel
Marimea probei pana la 50 mm

Xradia MicroXCT-200 este o noua clasa de solutii de imagistica 3D cu raze X optimizate pentru imagistica nedistructiva a structurilor interne complexe. Aceasta permite accelerarea, analiza extrem de eficienta a structurilor examinate intr-o varietate de aplicatii: Analiza la rupere si cercetarea pachetelor de semiconductori
Cercetarea in domeniul stiintelor vietii
Modelarea microstructurii rocilor pentru exploatarea uleiului si a gazului
Caracterizarea avansata a materialelor

Xradia MicroXCT-200 ofera posibilitatea unica de a dezvalui structura interna cu imagistica completa 3D caracteristica unei rezolutii mai mici de < 1.0 micron, facand-o o alternativa convingatoare pentru activitati de cercetare precum si de inspectie si control al proceselor de fabricatie.